現(xiàn)今的做法大都採用雷射做為光源,因?yàn)榫哂懈咄{(diào)性和高亮度的特性。 當(dāng)光通過雙狹縫後,由於兩狹縫之間距離很小,使得從兩狹縫(點(diǎn)波源)出來光波互相干涉,當(dāng)兩波抵達(dá)遠(yuǎn)方屏幕時(shí)其之間的光程差若為波長整數(shù)倍時(shí),形成相長性干涉,同樣的光程若為波長的半整數(shù)倍,形成相消性干涉,因此屏幕便會(huì)形成明暗相間的條紋,詳細(xì)介紹可參考普物實(shí)驗(yàn)之雷射光學(xué)(連結(jié) 1、2),或者模擬(連結(jié)1、2)。 繞射現(xiàn)象為當(dāng)光通過障礙物後,偏離原有的直線路徑我們稱之為繞射,通常發(fā)繩於障礙物的大小和波長的尺度相距不遠(yuǎn),一般而言繞射可分為Fraunhofer繞射和Fresnel 繞射(連結(jié) 1、2),一般而言光源趨近無限遠(yuǎn),其波前近似於平行波,通過障礙物的繞射我們稱之Fraunhofer繞射,當(dāng)光源不再是平行波時(shí),稱之為Fresnel 繞射,在教學(xué)實(shí)驗(yàn)室裏,最常見到的是單狹縫繞射,我們?cè)讵M縫上均勻等分若干點(diǎn),這些點(diǎn)距離屏幕之距離(光程差)為半波長時(shí)為相消性干涉會(huì)得到暗紋,若距離為一波長時(shí)會(huì)得到相長性干涉即亮紋,細(xì)節(jié)條論可參考普物實(shí)驗(yàn)雷射光學(xué)。 歷史上著名的邁克森干涉實(shí)驗(yàn)也是利用光之干涉來做為探究是否存在乙太,其方法和儀器可參考基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)之邁克森干涉。
相關(guān)連結(jié) 1.維基百科:惠更斯原理、Fraunhofer繞射、Fresnel 繞射。 2.普物實(shí)驗(yàn):雷射光學(xué)。 3.基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn):邁克森干涉。
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