一些汽車級的電子元器件標準

hxqdou 2017-10-18

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隨著汽車中電子元器件使用比率的不斷提高，又由于汽車對于安全性、可靠性的高要求，相對于各電子元器件的標準也相對較高。以下整理了一些汽車及電子元器件標準，包括芯片應力測試、離散組件應力測試、被動組件硬件測試等的認證規(guī)范。

AEC（automotive electronics council）

首先來了解以下AEC，它是由克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標準而設(shè)立的汽車電子委員會。AEC建立了質(zhì)量控制的標準。同時，由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述3家車廠使用，促進了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動了汽車零件通用性的實施，為汽車零部件市場的快速成長打下了基礎(chǔ)。

AEC-Q100芯片應力測試的認證規(guī)范

AEC-Q100是基于集成電路應力測試認證的失效機理的標準。它包含以下12個測試方法：AEC-Q100-001 邦線切應力測試；AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試；AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試；AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應測試；AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試；AEC-Q100-006 熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試；AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級；AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）；AEC-Q100-009 電分配的評估；AEC-Q100-010 錫球剪切測試；AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試；AEC-Q100-012 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述。

AEC-Q101半導體分立器件應力測試的認證規(guī)范

AEC-Q101是汽車級半導體分立器件應力測試認證，它包含以下6個測試方法：AEC-Q101-001 人體模式靜電放電測試；AEC-Q101-002 機械模式靜電放電測試；AEC-Q101-003 邦線切應力測試；AEC-Q101-004 雜項測試方法；AEC-Q101-005 帶電器件模式的靜電放電測試；AEC-Q101-006 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述。

AEC-Q200被動組件應力測試的認證規(guī)范

AEC-Q200是無源元件應力測試認證，它包括以下7個測試方式：AEC-Q200-001 阻燃測試；AEC-Q200-002 人體模式靜電放電測試；AEC-Q200-003 橫梁負載、斷裂強度；AEC-Q200-004 自恢復保險絲測量程序；AEC-Q200-005 板彎曲度測試；AEC-Q200-006 表面貼裝后的剪切強度測試；AEC-Q200-007 電涌測試。

AEC-Q001、AEC-Q002、AEC-Q003和AEC-Q004是另外4個電子元器件汽車級標準。其中，AEC-Q001規(guī)范中提出了所謂的參數(shù)零件平均測試方法（PPTA），PPTA是用來檢測外緣半導體組件異常特性的統(tǒng)計方法，用以將異常組件從所有產(chǎn)品中剔除。PPTA可分為靜態(tài)PAT、動態(tài)PAT和地域性PAT，所謂地域性PAT，即是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權(quán)重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，也可能會被移除。AEC-Q002基于統(tǒng)計原理，屬于統(tǒng)計式良品率分析的指導原則。AEC-Q001的統(tǒng)計性良品率分析分為統(tǒng)計性良品率限制和統(tǒng)計箱限制兩種。AEC-Q003是針對芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)所提出的特性化指導原則，其用來生成產(chǎn)品、制程或封裝的規(guī)格與數(shù)據(jù)表，目的在于收集組件、制程的數(shù)據(jù)并進行分析，以了解此組件與制程的屬性、表現(xiàn)和限制，檢查這些組件和設(shè)備的溫度、電壓、頻率等參數(shù)特性表現(xiàn)。AEC-Q004則提出了一系列的流程步驟，包括組件設(shè)計、制造、測試和使用，以及在該流程的各個階段中采用何種程零缺陷的工具和方法。這些方法涵蓋上述AEC的各種文件標準，以及JEDEC或AIAG等來自業(yè)界的質(zhì)量控制技術(shù)或管理系統(tǒng)的廣泛應用。當零件或制程已實現(xiàn)最佳化，且成熟性在經(jīng)過一段時間后被證實，此時只需要較少的工具就能改善或維持質(zhì)量和可靠性。AEC-Q004實質(zhì)上市一套零缺陷指導原則，其定義出芯片供貨商或用戶如何在產(chǎn)品生命周期中使用一些工具盒制程來達到零缺陷的目標。AEC-Q004不是強制性規(guī)范，是提出用來降低缺陷的工具和方法。