IGBT模塊散熱技術(shù)研究和設(shè)計步驟作者:微葉科技 時間:2015-07-21 17:02
1.IGBT的散熱設(shè)計規(guī)則
P<Q=(Tj—Ta)/R (1)
式中,P為功率器件的損耗功率,功率器件在工作時自身產(chǎn)生的平均穩(wěn)態(tài)功率消耗,定義為平均有效值輸出電流與平均有效值電壓降的乘積。Q為耗散功率,特定散熱結(jié)構(gòu)的散熱能力。21為元件工作結(jié)溫,即元件允許的最高工作溫度極限。本參數(shù)由制造廠提供,或產(chǎn)品標準強制給出要求。Ta為環(huán)境溫度;R為熱阻,熱量在媒質(zhì)之間傳遞時,單位功耗所產(chǎn)生的溫升。
R=△T/Q (2)
而熱阻尺又主要由三部分組成:
R=Rjc+Rcs+Rsa (3)
式中,Rjc為結(jié)點至管殼的熱阻;Rjc與IGBT的工藝水平和結(jié)構(gòu)有很大關(guān)系,由制造商給出。Rcs為管殼至散熱器的熱阻;Rcs與管殼和散熱器之間的填隙介質(zhì)(通常為空氣)、接觸面的粗糙度、平面度以及安裝的壓力等密切相關(guān)。介質(zhì)的導熱性能越好,或者接觸越緊密,則Rcs越小。Rsa為散熱器至空氣的熱阻;Rsa是散熱器選擇的重要參數(shù)。它與材質(zhì)、材料的形狀和表面積、體積、以及空氣流速等參量有關(guān)。綜合(1)和(3)可得
Rsa<[(Tj—Ta)/P]—Rjc—Rcs (4)
式(4)為散熱器選配的基本原則,一般散熱器廠商提供特定散熱器材料的形狀參數(shù)和熱阻特性曲線,據(jù)此設(shè)計人員可計算出所需散熱器的表面積、長度、重量,并進—步求得散熱器的熱阻值Rsa。在實際設(shè)計中應留出足夠余量,因為提供數(shù)據(jù)的準確性、由功率器件到散熱器的安裝狀況、散熱器表面的空氣對流狀態(tài)、熱量的非穩(wěn)態(tài)分布等,都是非理想化的因素,應將這些因素考慮到設(shè)計中。 另外,散熱器表面向空氣的熱輻射,也是一種熱耗散方式。在自冷設(shè)計中廣泛應用的陽極氧化發(fā)黑和打毛處理工藝,即是增加熱輻射的有效辦法。但該辦法明顯不適用要求強迫風冷的以對流傳導為主要方式的熱設(shè)計,因為散熱器表面越光亮則熱阻越低,這是在設(shè)計中要特別注意的。 3.熱設(shè)計中常用的幾種方法 為了將發(fā)熱器件的熱量盡快地發(fā)散出去,一般從以下幾個方面進行考慮:使用散熱器、冷卻風扇、金屬PCB、散熱膏等,在實際設(shè)計中要針對產(chǎn)品的要求及最佳性價比,合理地將上述幾種方法綜合運用到功率器件的熱設(shè)計中。 4.功率模塊的散熱器設(shè)計 由于功率模塊所產(chǎn)生的熱量在所設(shè)計的系統(tǒng)中占主導地位,其熱量主要來源于功率模塊的開通、關(guān)斷及導通損耗。從電路拓撲方式上來講,采用零開關(guān)變換拓撲方式使電路中的電壓或電流在過零時開通或關(guān)斷,可最大限度地減少開關(guān)損耗-匿匠無法徹預瀑頭婦于關(guān)管的損耗,故利用散熱器是常用及主要的方法。 (1)散熱器的熱阻模型 由于散熱器是功率模塊散熱的重要部件,它的散熱繃嘲高與低關(guān)系到功率模的工作性能。散熱器通常采用銅或鋁,雖然銅的熱導率比鋁高2倍,但其價格比鋁高得多,故目前采用鋁材料的情況較為普遍。通常來講,散熱器的表面積越大散熱效果越好。散熱器的熱阻模型及等效電路如圖1和圖2所示,半導體結(jié)溫公式如下式:
圖1 散熱器熱阻模型
圖2 熱阻模型等效電路
Pcmax(ta)=(tjmax~ta)/θj-a (5)
Pcmax(tc)=(tjmax~tc)/θj-c (6)
式中,Pcmax(ta)為功率模塊在環(huán)境溫度為ta時的額定最大損耗;Pcmax(tc)為功率模塊在預定的工作環(huán)境溫度tc時的額定最大損耗;tjmax:為功率模塊最大允許結(jié)溫;ta為環(huán)境溫度;tc為預定的工作環(huán)境溫度。θj-a為環(huán)境溫度為ta時的全熱阻;θj-c為預定的工作環(huán)境溫度tc時的全熱阻。在圖2中θs為絕緣墊熱阻抗;θc為接觸熱阻抗(半導體和散熱器的接觸部分);θf為散熱器的熱阻抗(散熱器與空氣);θi為內(nèi)部熱阻抗(PN結(jié)接合部與外殼封裝);θb為外部熱阻抗(外殼封裝與空氣)。根據(jù)圖2所示的熱阻等效回路,全熱阻可寫為
θj-a=θi+[θb×(θs+θc+θf)]/(θb+θs+θc+θf) (7)
又因為θb比θs+θc+θf大很多,故可近似為:
θj-a=θi+θs+θc+θf (8)
(2)熱阻定義1) PN結(jié)與外部封裝間的熱阻抗(又叫內(nèi)部熱阻抗)θi與半導體PN結(jié)構(gòu)、所用材料、外部封裝內(nèi)的填充物直接相關(guān),每種半導體都有自身固有的熱阻抗。 2) 接觸熱阻抗θc是由半導體、封裝形式和散熱器的接觸面狀態(tài)所決定,接觸面的平坦度、粗糙度、接觸面積、安裝方式都會對它產(chǎn)生影響。當接觸面不平整、不光滑或接觸面緊固力不足時就會增大接觸熱阻抗θc。在半導體和散熱器之間涂上硅油可以增大接觸面積,排除接觸面之間的空氣,而硅油本身又有良好的導熱性,可降低接觸熱阻抗θc。 當前有一種新型的相變材料,可取代硅油作為傳熱介面,在65℃(相變溫度)時從固體變?yōu)榱黧w,從而確保界面的完全潤濕,該材料的觸變特性避免其流到介面外。其傳熱效果與硅油相當,但沒有硅油帶來的污垢、環(huán)境污染和難于操作等缺點。用于不需要電氣絕緣的場合。典型應用包括CPU散熱片,功率模塊或其他任何使用硅油的場合,它可涂布在鋁質(zhì)基材的兩面,可單面附膠,雙面附膠或不附膠。 3) 絕緣墊熱阻抗θs。絕緣墊是用于半導體器件和散熱器之間的絕緣體,絕緣墊的熱阻抗θs取決于絕緣材料的材質(zhì)、厚度、面積。幾種常用半導體封裝形式的θs+θc見表1。
表1 常用半導體封裝形式的θs+θc
S=0.86/(δt×α)m2 (9)
式中,δt為散熱器溫度與周圍環(huán)境溫度(ta)的差(℃);α為熱傳導系數(shù),是由空氣的物理性質(zhì)及空氣流速決定。α由下式?jīng)Q定。
α=nV×λ/L (10)
式中,λ為熱電導率,由空氣的物理性質(zhì)決定;L為散熱器高度(m);nV為空氣流速系數(shù),由下式?jīng)Q定。
(11)
式中,v為動粘性系數(shù)(m2/S);v’為散熱器表面的空氣流速(m/s);Pr為系數(shù),見表2。
表2 Pr系數(shù)
在實際工作中,采用普通散熱器與強迫風冷相結(jié)合的措施,并在散熱器上安裝溫度開關(guān)。當溫度達到75-80℃時,通過關(guān)閉信號停止對PMW發(fā)送控制信號,從而使驅(qū)動器封鎖IGBT的開關(guān)輸出,并予以關(guān)斷保護。一個系統(tǒng)的冷卻方式對IGBT的選擇有非常大的影響。有些系統(tǒng)要求自然冷卻(簡稱自冷),有些則可以接受風扇冷卻(簡稱風冷)。在同樣功率、同等條件下,風冷和自冷IGBT的最大區(qū)別在于外形大小及成本方面。西方大的公司傳統(tǒng)上選擇自然冷卻,這樣可得到較長的產(chǎn)品壽命,明顯降低維護成本。 風冷IGBT在成本和尺寸上的優(yōu)勢被它的缺點所抵消(如噪聲,灰塵,風扇壽命和可靠性),但實際上這些缺點并不是最首要考慮的問題。一個外殼設(shè)計得極佳的自冷IGBT的可靠性比采用風冷的IGBT要低得多,因為風冷IGBT的冷卻與外殼設(shè)計無關(guān)。另外,風冷產(chǎn)品的關(guān)鍵是半導體器件的溫度比自冷系統(tǒng)溫升更低,因而更可靠。 要求產(chǎn)品設(shè)計壽命超過7年時,傳統(tǒng)上不采用風扇。但是,如果允許定期更換風扇,就有可能得到設(shè)計壽命更長的風冷系統(tǒng)。如果風冷IGBT設(shè)計成具有風扇性能監(jiān)測、現(xiàn)場易于更換風扇的特性,則允許系統(tǒng)以低成本獲得高可靠性。除了風冷和自冷技術(shù)外,另外兩種技術(shù)也越來越流行:外部系統(tǒng)冷卻和輔助冷卻。 在功率模塊的實際應用設(shè)計過程中,通常采用自然風冷與風扇強制風冷二種形式。自然風冷的散熱片安裝時應使散熱片的葉片豎直向上放置,若有可能則可在散熱片安裝位置的周圍鉆幾個通氣孔便于空氣的對流。 強制風冷是利用風扇強制空氣對流,冷卻是由間斷運行的風扇提供的。如果溫度過高或持續(xù)輸出大電流時,風扇就會運轉(zhuǎn)。采用這種方式可以獲得很高的系統(tǒng)集成度,但需要經(jīng)常讓風扇運轉(zhuǎn)并定期檢測其性能。所以在風道的設(shè)計上同樣應使散熱片的葉片軸向與風扇的抽氣方向一致,為了有良好的通風效果,越是散熱量大的功率模塊越應靠近排氣風扇,在有排氣風扇的情況下,散熱片的熱阻見表3。
表3 散熱片的熱阻
1)風扇間斷運轉(zhuǎn)使得系統(tǒng)設(shè)計壽命比IGBT內(nèi)強制風冷要長。 2)在正常情況下IGBT的冷卻風扇不轉(zhuǎn)。 3)由于風扇間斷運行,灰塵和噪聲問題也大大緩解。 表4給出了各種冷卻方式下的典型功率密度。
表4 各種冷卻方式下的典型功率密度
上一篇:后沿相位控制調(diào)光器IGBT應用技術(shù)與選型 下一篇:IGBT模塊損壞的原因分析和故障處理方式
|
|